1BM.ru - Первый машиностроительныйВернуться на главную страницу порталаКонтактная информация

Первый Машиностроительный Портал

информационно-поисковая система
Форма для связи
 
Каталоги предприятий
Предприятия машиностроения
Поставщики проката, поковок, отливок
Работы и услуги для машиностроения
Библиотека портала
ГОСТы, ОСТы, ТУ
Марочник металлов и сплавов
Бесплатные программы
Реклама на портале
Отраслевой форум
Тендеры
Маркетинговые исследования
Последние поступления
Всего доступных документов: 65154
Новые карточки НТД: ГОСТ, ОСТ, ТУ
Добавить документ
Ваше положение в каталоге нормативных документов:
Нормы расчета и проектирования - Каталог ГОСТ
Номер:

ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001

Название: Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем.
ОКС: 31.200
Вступил в действие: С 01.07.2002
Ключевые слова: контроль, дефекты, критерии, пассивация, металлизация, диффузия, соединения
Страниц: 28 (А4)
Описание ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001: Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем (приборов) на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов (ТУ).

Такие испытания обычно проводят на основе сплошного контроля приборов до их установления в корпус или герметизации с целью обнаружения и изъятия приборов, имеющих внутренние дефекты, которые могут привести к отказу прибора в нормальных условиях эксплуатации. Испытания могут проводиться также на основе выборочного контроля до установления в корпус с целью определения эффективности применяемых изготовителем процедур контроля качества и монтажа полупроводниковых приборов.

Аутентичен МЭК 748-11-1-92

ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 расположен в разделе: Нормы расчета и проектирования - Каталог ГОСТ. [Открыть]
Файлы документа в наличии:
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001.pdf передан 18.12.2007
Документ ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 предоставлен участником портала.
Варианты получения документа ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001:
Получите бесплатный доступ к ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001. Передайте в библиотеку один отсутствующий в ней документ (ГОСТ, ОСТ или ТУ) и Вам будет открыт доступ к любым двум нормативным документам, имеющимся в библиотеке портала.
Приобретите доступ к 10 нормативным документам.
Стоимость услуги - 3000р.

На неограниченный срок Вы получаете возможность скачать любой уже имеющийся в библиотеке портала документ либо дождаться поступления еще отсутствующего документа. Благодаря системе обмена документами наша библиотека ежедневно пополняется множеством нормативных документов.

Пакетный доступ к 10 документам позволяет сэкономить на стоимости отдельного документа, которая в некоторых случаях может даже превосходить стоимость доступа к 10 документам.

Получите доступ к 30 нормативным документам и другим сервисам портала на тарифе «Стандарт».
Стоимость услуги - 10000р.

Это предложение для организаций, которые заинтересованы не только в получении сотрудниками доступа к нормативной документации, но и в представлении своей продукции и услуг, а так же в продвижении своего сайта в поисковых системах. Тариф «Стандарт» предоставляет комплексный доступ к ресурсам портала, при грамотном и полном использовании которого Вы сможете получить значительный отклик в виде новых клиентов и улучшившейся посещаемости сайта организации.

В качестве бонуса в тариф «Стандарт» включен доступ к марочнику металлов и сплавов сроком на один год.

Приобретите доступ к документу ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Стоимость услуги - 495,60р.

Обратите внимание на возможность приобрести доступ к 10 документам за 3000р.
или получить документ бесплатно по обмену.

Если Вы обладаете новыми изменениями к документу ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001, не указанными в карточке, Вы можете передать их в библиотеку и принять участие в программе обмена документами (получить ответный доступ к двум документам).
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001, Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем., 31.200, С 01.07.2002, контроль, дефекты, критерии, пассивация, металлизация, диффузия, соединения, 28 (А4), Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем (приборов) на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов (ТУ). Такие испытания обычно проводят на основе сплошного контроля приборов до их установления в корпус или герметизации с целью обнаружения и изъятия приборов, имеющих внутренние дефекты, которые могут привести к отказу прибора в нормальных условиях эксплуатации. Испытания могут проводиться также на основе выборочного контроля до установления в корпус с целью определения эффективности применяемых изготовителем процедур контроля качества и монтажа полупроводниковых приборов. Аутентичен МЭК 748-11-1-92, 1047, 1
Авторизоваться в системе:
ЛогинПароль(забыли?)
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись вКонтакте.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Facebook.
Авторизуйтесь на портале, используя свою учетную запись в Mail.ru.
Copyright © 2006-2019, All rights reserved.
Rambler's Top100